ATE测试，即 Automatic Test Equipment的英文缩写，是一种 通过自动化设备对集成电路（IC）进行功能、性能、质量等方面的测试过程。ATE设备能够在生产线上对大量的芯片进行高效、精确的检测，帮助发现制造缺陷，确保产品符合设计要求，并且避免不合格的芯片进入市场。
ATE测试的主要目标包括：
功能验证：
确保芯片的各个功能模块按设计要求正常工作。
性能测试：
验证芯片在不同工作条件下的性能表现，包括速度、功耗等。
可靠性测试：
检测芯片在极端环境下的表现，确保其长期稳定运行。
ATE测试的基本原理是通过测试向量对芯片施加激励，测量芯片的响应输出，并与预期结果进行比较，从而判断芯片是否符合规格要求。测试过程中使用的设备通常包括示波器、万用表、频谱分析仪等，这些设备通过计算机控制，自动完成测试序列并生成数据报告。
与人工手动测试相比，ATE测试具有高效性、高可靠性和准确性，以及可重复性，是电测行业最普遍的测试方式，广泛应用于电子制造业和电子产品研发领域。