AFM是 Atomic Force Microscope的缩写,即 原子力显微镜。它是一种高分辨率的表面形貌分析仪器,利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。AFM在材料科学、纳米技术、生物学等领域有着广泛的应用,可以用于观察微小物体表面形态和力学性质,进行高分辨率的三维成像,并进行力学性质和表面形貌的测试和分析。
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