XRF是 X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence）的缩写。它是一种非破坏性的测试技术，通过X射线照射物质，激发样品中的原子，使原子中的电子跃迁到更高的能级，然后释放出能量，以二次X射线的形式表现出来。这些二次X射线具有特定的能量特性，与元素的种类有关。通过测量这些二次X射线的能量和数量，可以确定样品中元素的种类和含量。
XRF技术广泛应用于地质、冶金、材料、环境等多个领域，成为无机分析领域的重要技术手段之一。它具有快速、无损、高准确度等优点，并且能够同时分析多种元素。
XRF仪器通常由激发源（如X射线管）和探测系统组成。X射线管产生入射X射线，激发被测样品，样品中的元素放射出二次X射线，探测系统测量这些二次X射线的能量及数量，仪器软件将收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。