IC测试，即 集成电路（Integrated Circuit, IC）测试，是对IC进行的一系列测试，旨在验证IC的功能、性能和可靠性，以确保其符合设计规格并达到预期性能水平。IC测试通常包括以下几个方面：
功能测试：
验证IC的基本功能是否正常，可能涉及输入输出信号的模拟和数字测试。
电气特性测试：
测量IC的电气特性，如电压、电流、功率等，包括输入电压范围、输出电压稳定性、功耗测试等。
时序测试：
测试IC的时序特性，包括时钟频率、延迟时间、数据传输速度等。
温度测试：
在不同温度条件下测试IC的性能，以评估其在不同工作温度下的稳定性和可靠性。
可靠性测试：
进行可靠性测试，包括老化测试、热冲击测试、湿度测试等，以评估IC在长期使用和极端环境下的性能。
功耗测试：
测量IC的功耗特性，包括静态功耗和动态功耗，以评估其能耗和效率。
辐射测试：
对某些特殊应用的IC，可能需要进行辐射测试，以评估其在辐射环境下的性能。
除了上述测试类型，IC测试还可以包括其他相关项目，例如：
物理性外观测试：包括视觉检查、尺寸测量、材料成分分析等。
化学腐蚀开盖测试：测试IC的封装在化学处理后的耐受性。
可焊性测试：评估IC引脚的可焊性，确保焊接质量。
直流参数测试：验证IC在静态工作状态下的电气特性，如开短路测试、输入输出电流和电压测试等。
交流特性测试：测试IC在交流环境下的性能，如音频功放电路的增益、输出功率、失真指标等。
IC测试是确保IC质量和可靠性的关键环节，对于提高电子产品整体性能和用户体验至关重要。