方阻，全称方块电阻（Sheet Resistance）， 是指一个正方形薄膜导电材料边到边之间的电阻。它反映了导电膜材料本身的导电特性，方阻的高低与样品尺寸无关，其单位为欧姆每平方（Ω/sq）。
方阻的测试方法包括四线法、测量电压和电流的方式等。四线法可以在实验室或者现场进行精确的测量，是目前应用最广泛的方阻测试方法之一。
方阻的影响因素包括材料的电阻率、厚度、以及制备工艺等。例如，ITO导电膜的方阻范围因其原材料、组成比例、制备工艺等因素的不同而有所差异。
方阻是衡量薄膜状导电材料，如蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等厚度的较好方法，并且该数值大小可直接换算为热红外辐射率。
总的来说，方阻是一个重要的电学参数，用于描述导电薄膜材料的电阻特性，并可通过特定的测试方法进行测量。