平面度是指一个平面相对于理想平面的偏差程度。测量平面度的方法有多种，以下是一些常用的方法：
塞尺测量法
使用塞尺（如千分尺）测量零件表面与标准平板之间的间隙，以评估平面度。
适用于粗测，精度较低，只能检测零件边缘。
液平面法
利用连通器原理，通过传感器测量液平面作为测量基准面。
对温度敏感，适用于测量精度较低的平面。
打表测量法
使用测微计沿零件表面逐点或沿直线方向进行测量。
可以使用三坐标测量仪或平板测微仪进行更精确的测量。
激光平面干涉仪测量法
利用光学平晶的工作面体现理想平面，通过干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。
主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。
三坐标测量仪
通过指示器在待测样品上移动，按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据，然后进行数据处理评定出平面度误差。
水平仪/数字水平仪测量法
使用水平仪测量零件表面的倾斜度，从而间接评估平面度。
激光平面度测量仪
专门用于测量大型平面的平面度误差。
数据采集仪连接百分表测量法
使用数据采集仪从百分表中实时读取数据，并进行平面度误差的计算与分析。
选择合适的测量方法取决于被测平面的尺寸、精度要求和可用资源。每种方法都有其优缺点，实际应用中可能需要结合多种方法以获得更准确的测量结果