SEM测试是指 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope）的测试方法。扫描电子显微镜是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器，它通过细聚焦的电子束扫描样品表面，激发各种物理信息，如二次电子、背散射电子等，并通过探测器接收和放大这些信号，最终获得样品的表面形貌和成分信息。
SEM测试具有以下特点和用途：
高分辨率：
SEM的分辨率通常在3-0.5nm之间，最高可达0.4nm，能够观察到纳米级别的细节。
大景深：
SEM具有较大的景深，能够清晰地呈现三维形貌。
成分分析：
通过能谱（EDS）技术，SEM可以分析样品表面的元素组成和分布。
表面形貌观察：
SEM能够观察各种材料的表面形貌，包括金属、陶瓷、聚合物、纤维和生物材料等。
微观结构分析：
SEM可以分析材料的微观结构，如晶体结构、晶粒尺寸、纤维结构等。
应用领域：
SEM广泛应用于材料科学、化学、生物学、地质等领域，用于材料失效分析、金相分析、细胞观察等。
在进行SEM测试时，需要对样品进行相应的处理，如固定、干燥、镀层等，以便获得高质量的观察结果。同时，SEM测试还可以结合其他分析技术，如X射线能谱（EDS）、背散射电子（BSE）等，以获得更全面的样品信息。