红外ATR（Attenuated Total Reflection，衰减全反射）是一种 利用红外光谱技术中的全反射（ATR）效应将待测样品与ATR元件表面发生接触产生的红外光学信号作为研究样品性质的方法。相比于传统红外光谱法，红外ATR方法不需要对样品进行预处理，同时能够对固体、液体、薄膜等各种不同状态的样品进行非破坏性分析。此外，红外ATR还可以通过改变ATR元件的材料和形状等因素，调节其吸收深度，从而实现对不同深度处样品进行分析。
ATR技术的核心是利用光束在样品和ATR晶体表面之间发生全反射，部分光束在晶体表面发生衰减并被吸收，这些被吸收的光束携带了样品的红外光谱信息，从而可以进行化学成分分析。这种方法具有无需样品前处理、非破坏性、高灵敏度和高精确度等优点，广泛应用于化学、生物、食品、药品、材料等领域。
常见的ATR晶体材料包括KRS-5（TlBr和TlI的混晶，折射率为2.38）和ZnSe（折射率为2.4）。ATR附件是利用红外光穿过高折射率棱镜时产生的特性设计的，可以用于固体、薄膜等表面或界面层的结构研究。
综上所述，红外ATR是一种强大的分析工具，适用于多种类型样品的快速、非破坏性红外光谱分析。