SEM检测是指 利用扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope, SEM）进行的检测方法。扫描电子显微镜是一种高分辨率的微区形貌分析仪器，它通过细聚焦的电子束扫描样品表面，并检测电子与样品相互作用产生的各种信号，如二次电子、背散射电子和X射线等。这些信号被探测器接收并转换为电信号，经过放大和处理后，在显示器上生成图像。
SEM检测的主要应用领域包括：
材料形貌和尺寸观察：
用于观察和分析金属、陶瓷、聚合物等材料的表面形貌和微观结构。
镀层和膜层分析：
对带有镀层的材料膜层进行分析，了解其厚度和成分。
微区元素分析：
通过能量色散X射线光谱（EDS）进行元素分析，确定样品中不同区域的化学组成。
细胞观察：
在生物学领域，用于观察细胞结构和形态。
失效分析和金相分析：
在材料科学中，用于分析材料的失效原因和进行金相组织分析。
SEM检测的优点包括高分辨率、大景深、能够清晰地呈现三维形貌，并且可以同时进行成分分析。这些特点使得SEM成为材料科学、化学、生物学、医学和地质等领域中不可或缺的测试手段。