X射线衍射（XRD）是一种快速、准确、高效的材料无损检测技术，主要应用包括：
物相分析：
通过将样品的衍射图谱与标准PDF卡片进行比对，可以获得物质的组成、晶体结构、分子内成键方式、分子构型与构象等关键信息。
晶体织构分析：
X射线衍射可以测量块状和粉末状的样品，分析晶体在空间中的排列和取向，从而了解晶体的织构特性。
应力测试：
通过分析衍射图谱中的变化，可以推断材料内部是否存在应力及其分布情况。
晶体完整性分析：
X射线衍射能够提供关于晶体完整性的大量信息，包括晶胞参数、晶格畸变、晶面间距等。
定性分析和定量分析：
通过比对样品衍射图谱与标准卡片，可以定性分析物相组成；通过衍射强度数据的分析计算，可以完成物相组成的定量分析。
结构表征：
X射线衍射是材料结构表征和分析的基本方法，可以确定物质中晶体结构和晶体学性质，如晶胞参数、晶体对称性、晶体形态和元素成分等。
应用领域：
XRD分析已广泛应用于物理、化学、地球科学、材料科学等领域的研究和工业生产中，成为现代科学研究中不可或缺的工具。
综上所述，XRD是一种强大的分析工具，能够提供关于材料结构和成分的详细信息，适用于从基础研究到工业应用的广泛领域。