SEM表征是指 利用扫描电子显微镜（SEM）技术对材料的性质和结构进行表征的方法。扫描电子显微镜是一种高分辨率成像技术，它通过扫描物体表面的电子束与样品交互作用产生的信号，获取样品表面的形貌、拓扑特征以及元素分布等信息。
在材料科学中，SEM主要用于以下方面的表征：
表面形貌分析：
SEM能够提供高分辨率的表面形貌图像，显示材料表面的纹理、形状、粗糙度等特征。这些信息有助于揭示材料的微观结构、表面缺陷和表面处理效果。
粒度分析：
通过SEM观察和测量材料颗粒的大小、形状和分布情况，这对于粉末材料、颗粒材料和颗粒填充材料的研究和分析非常有用。
元素分析：
在SEM化学表征中，常用的技术包括能谱分析（EDS）和电子能量损失谱仪（EELS）。这些技术可以通过收集样品表面散射电子的能量分布来分析样品中不同元素的含量和分布情况。
大视野观察：
SEM提供较大的视野范围，适合观察较大面积的样品表面，有助于理解粉体的整体分布和聚集状态。
综上所述，SEM表征是一种强大的工具，广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域，以获取有关材料表面和内部结构的详细信息。