X射线衍射（XRD）是一种用于材料科学的技术，它利用X射线与晶体结构的相互作用来分析材料的内部结构。以下是XRD可以测定的内容：
晶体结构分析
确定材料中的相组成，即不同晶体结构的相的种类和含量。
通过分析材料的衍射峰，可以确定材料中的各个晶相，并计算出它们的相对含量。
结晶度分析
结晶度是指材料中晶体的完整性和有序性程度。
XRD测试可以通过分析衍射峰的强度和宽度来评估材料的结晶度，从而判断材料的晶体质量和纯度。
晶格参数测定
晶格参数是指晶体中晶胞的尺寸和形状。
XRD测试可以通过解析衍射峰的位置和强度，计算出晶胞的晶格参数，包括晶胞常数、晶胞体积和晶胞形状等信息。
元素分析
如果样品是晶体粉末，XRD还可以用来测定样品中包含的元素。
表面分析
掠入射XRD可以专门测试薄膜表面的信息。
其他应用
XRD技术也用于毒品、炸药、液体危险品等违禁品的检测。
可以测定晶体掺杂情况、物相占比情况。
结晶度的测定对于理解材料性能至关重要。
精密测定点阵参数有助于确定固溶体类型，计算密度、膨胀系数等物理常数。
XRD技术因其非破坏性、高准确性和广泛的应用范围，成为材料科学研究中非常重要的工具