XRD，即 X射线衍射（X-Ray Diffraction），是一种通过X射线与物质相互作用，分析其衍射图谱来获得物质成分、内部原子或分子结构或形态等信息的研究手段。XRD技术广泛应用于物相分析、结晶度分析、织构测定、晶体学参数测定等领域。
XRD的基本原理
当X射线照射到晶体或非晶体物质上时，会发生衍射现象。根据布拉格方程，X射线的波长和晶体中晶面距相近时，可以计算出衍射角θ。通过测量不同角度的衍射强度，可以得到衍射图谱，从而分析出物质的晶体结构和组成。
XRD的应用
物相分析：
通过比对衍射图谱与标准图谱，可以鉴定物质中是否存在特定晶相，以及各晶相的含量比例。
结晶度分析：
衍射峰形的尖锐程度和基线的平整度可以用来评估晶体的结晶程度。
织构测定：
XRD可以用于分析晶体材料的织构，包括晶粒取向、晶界等。
晶体学参数测定：
通过衍射数据可以计算晶胞参数、原子间距等晶体学参数。
结构解析：
对于单晶体，可以通过X射线单晶衍射技术解析其原子结构；对于多晶体或粉末样品，则通过X射线粉末衍射技术进行结构解析。
XRD的优点
非破坏性分析：
XRD是一种非破坏性的分析方法，适用于材料科学、生物学、地质学等多个领域。
高测量精度：
XRD技术具有高测量精度，能够获得有关晶体完整性的大量信息。
快速分析：
XRD分析过程快捷，适合快速物相鉴定和结构分析。
广泛应用：
XRD作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，已在各学科的研究和生产中广泛应用。
综上所述，XRD是一种强大的分析工具，通过X射线衍射现象可以获得丰富的物质结构信息，对于科学研究和工业生产具有重要意义。