扫描电镜（SEM）是一种高分辨率的显微镜技术，能够提供关于样品表面形貌、元素组成和电荷分布等方面的详细信息。以下是扫描电镜能够测量的几个方面：
样本表面形貌信息
扫描电镜通过扫描样本表面并记录所产生的电子信号，生成高分辨率的图像，显示样本表面的微观结构和形貌。这对于研究材料的表面特征、纹理和形态非常有用。它可以帮助研究人员观察材料的晶体结构、表面缺陷和形貌特征，从而进一步理解其性质和行为。
样本元素组成信息
扫描电镜配备了能量色散X射线光谱仪（EDS），通过分析样本所产生的X射线能谱可以确定样本中的元素组成。这对于确定样本的化学成分、分析材料的组成和纯度非常重要。它可以帮助研究人员分析矿石、岩石和合金等材料的成分，从而确定其用途和性能。
样本表面电荷分布信息
扫描电镜可以观察到样本表面的电子信号分布情况，从而了解样本表面的电荷状态。这对于研究电子器件、纳米材料和生物样本等具有电荷特性的样品非常重要。它可以帮助研究人员观察电子器件表面的电荷分布情况，从而优化器件的设计和性能。
纳米材料观察
扫描电镜的一个重要特点是具有很高的分辨率，能够直接观察纳米材料的结构、颗粒尺寸、分布、均匀度及团聚情况。结合能谱还能对纳米材料的微区成分进行分析，确定纳米材料的组成。这对于改进合成条件，制备出具有优异性能的纳米材料有很重要的指导意义。
高分子材料观察
扫描电镜可以直接观察高分子材料（如均聚物、共聚物及共混物）的粒、块、纤维、膜片及其制品的微观形貌，粉体颗粒及纤维等增强材料在母体中的分散情况。另外，SEM还能观察高分子材料在老化、疲劳、拉伸及扭转等情形下断口断裂和扩散的情况，为分析断裂的起因、断裂方式及机理提供帮助。
金属材料观察
扫描电镜可对金属材料的微观组织（如马氏体、奥氏体、珠光体、铁素体等）进行显微结构及立体形态的分析。同时，SEM还可对金属材料表面的磨损、腐蚀以及形变（如多晶位错和滑移等）进行分析；对金属材料断口形貌进行观察，揭示断裂机理（解理断裂、准解理断裂、韧窝断裂、沿晶断裂、疲劳断裂）；对钢铁产品质量和缺陷分析（如气泡、显微裂纹及显微缩孔）。
电化学分析
扫描电化学显微镜（SECM）基于电化学原理工作，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。利用驱动非常小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而获得对应的微区电化学和相关信息，目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。
生物样本观察
扫描电镜也广泛应用于生物样本的观察，如细胞、组织等，能够提供高分辨率的三维图像和表面形貌信息，有助于研究物质的性质、结构和功能。
综上所述，扫描电镜在材料科学、生物学、医学、地矿学等多个领域都有广泛的应用，能够提供丰富的微观结构和形貌信息，对于科学研究和工程应用具有重要意义。